微區(qū)X射線熒光光譜儀Atlas

微區(qū)X射線熒光分析儀Atlas，作為一款能量色散型X射線熒光分析儀（EDXRF），Atlas的空間分辨率、操作自動化，束斑尺寸等諸多性能指標表現(xiàn)優(yōu)異，目前Atlas有兩個型號M和X（尺寸更大）。

微區(qū)X射線熒光光譜儀Atlas

主要技術參數(shù)

電路板的X射線面分布圖，（Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn）

介紹：　　IXRF專注于精確地微區(qū)痕量元素分析產(chǎn)品，包括齊全的能譜儀（EDS）和X射線熒光（XRF）。     
　　在硬件方面，作為一款臺式XRF，Atlas-M型號的體積為890×560×560mm，具有較大的樣品倉體積，相對應的是較大的樣品臺行程以及最重的載重量，而與此同時，卻可以將樣品臺的移動速度提升到300mm/s，移動精度≤1μm。      其采用的毛細管聚焦技術，可將束斑縮至5μm，另外也可通過選用準直器等配件，使束斑在5μm—1000μm之間的范圍內(nèi)可調(diào)；其多大8片的濾波片選擇，可滿足更多的分析需求。　　在軟件方面，作為曾因其軟件研發(fā)能力而獲得英國政府頒發(fā)的千禧年大獎的公司，IXRF在Atlas操作軟件的開發(fā)上沿襲了其一貫的專業(yè)性及開放性。在數(shù)據(jù)的獲取及處理上，可實現(xiàn)數(shù)據(jù)的一鍵采集，或自動或手動的鑒別樣品成分，并利用FP建模或quantitative  match等功能實現(xiàn)樣品成分的定量分析；在圖像處理方面，不僅可對獲取的圖像進行拼接，還可實現(xiàn)相分析、特征顆粒篩選、特征顆粒形態(tài)學上的測量及成分分析等功能；在面分布及線掃描方面，可同時獲得多達35種元素的信息，并且實現(xiàn)單像素的譜圖數(shù)據(jù)采集，并可保存下來，后續(xù)仍可繼續(xù)對此數(shù)據(jù)進行點線面等處理。　　在應用方面，可在各種環(huán)境，如大氣、真空以及氦氣等氣氛下分析多種類的樣品，無論是固體、液體、顆粒、粉末，樣品大小，拋光與否，表面粗糙與否皆可輕松勝任，且實現(xiàn)無損分析。      鑒于Atlas的突出的性能特點，其被廣泛的應用到地礦文博、電子器件、環(huán)境監(jiān)測、刑偵醫(yī)學、醫(yī)藥檢測等方面。

Atlas-M型號技術參數(shù)

特點：

1、 束斑尺寸最小可達5μm；

2、 大樣品臺行程（320×320×120mm），移動速度可達300mm/s；

3、 多達8片的濾波片選擇；

應用領域：

1、 地礦文博；

2、 電子器件；

3、 刑偵醫(yī)學；

4、 醫(yī)藥檢測；

     5、 環(huán)境監(jiān)測。